এই ফ্যাক্টরটির লক্ষ্য হল একটি কোম্পানির প্রযুক্তিগত উদ্ভাবনের গভীরতা এবং জটিলতা পরিমাপ করা। সাধারণভাবে বলতে গেলে, উচ্চ প্রযুক্তিগত বিষয়বস্তু এবং শক্তিশালী উদ্ভাবন সহ উদ্ভাবন পেটেন্টগুলির পরীক্ষা প্রক্রিয়া প্রায়শই আরও কঠোর এবং সময়সাপেক্ষ হয়। দীর্ঘ পরীক্ষার চক্র নিম্নলিখিত কারণগুলির কারণে হতে পারে: পেটেন্টের উচ্চতর প্রযুক্তিগত জটিলতা, পরীক্ষকদের আরও গভীরভাবে মূল্যায়ন করার প্রয়োজনীয়তা এবং পেটেন্ট আবেদন প্রক্রিয়ার সময় একাধিক সংশোধন বা প্রতিরক্ষার প্রয়োজন। অতএব, দীর্ঘ গড় পরীক্ষার চক্র পরোক্ষভাবে কোম্পানির মালিকানাধীন পেটেন্টগুলির সম্ভাব্য মূল্য এবং প্রযুক্তিগত বাধা প্রতিফলিত করতে পারে। তবে, এটি মনে রাখা উচিত যে, দীর্ঘ পরীক্ষার চক্র পেটেন্ট অ্যাপ্লিকেশনের নিম্ন গুণমান এবং পরীক্ষা প্রক্রিয়ার সাথে কোম্পানির অপরিচিততার মতো কারণগুলির সাথেও সম্পর্কিত হতে পারে এবং ব্যাপক বিশ্লেষণের জন্য অন্যান্য কারণগুলির সাথে মিলিত হওয়া প্রয়োজন।