Tempoh purata pemeriksaan untuk paten reka cipta dalam tempoh lima tahun yang lalu
factor.formula
Tempoh purata pemeriksaan untuk paten reka cipta dalam tempoh lima tahun yang lalu:
Formula ini mengira min aritmetik bagi tempoh pemeriksaan semua paten reka cipta syarikat yang diluluskan dalam tempoh lima tahun yang lalu.
- :
Jumlah paten reka cipta yang diluluskan dalam tempoh lima tahun yang lalu
- :
Tempoh pemeriksaan untuk paten ke-i (TempohPemeriksaan)
factor.explanation
Faktor ini bertujuan untuk menangkap kedalaman dan kerumitan inovasi teknologi sesebuah syarikat. Secara amnya, proses pemeriksaan untuk paten reka cipta dengan kandungan teknikal yang tinggi dan inovasi yang kukuh sering kali lebih ketat dan memakan masa. Kitaran pemeriksaan yang lebih panjang mungkin disebabkan oleh faktor-faktor berikut: kerumitan teknikal paten yang lebih tinggi, keperluan pemeriksa untuk menjalankan penilaian yang lebih mendalam, dan pelbagai semakan atau pembelaan semasa proses permohonan paten. Oleh itu, kitaran purata pemeriksaan yang lebih panjang secara tidak langsung boleh mencerminkan potensi nilai dan halangan teknologi paten yang dimiliki oleh syarikat. Walau bagaimanapun, perlu diingatkan bahawa kitaran pemeriksaan yang panjang juga mungkin berkaitan dengan faktor seperti kualiti permohonan paten yang rendah dan kurangnya kebiasaan syarikat dengan proses pemeriksaan, dan perlu digabungkan dengan faktor-faktor lain untuk analisis yang komprehensif.